1．主机采用的电路，所测数值、快、准（一代为传统式电路，缺点：体积大，速度慢，元器件繁多导致影响机器寿命）。

2. 屏幕采用液晶显示（一代为只有数码管显示）。

3. 匹配电脑接口及软件，让操作简便明了化（可直接连接电脑，电脑进行自动运算根据输入厚度，自动比照并修正系数，使被测结果，数据可储藏或删除，利于使用方保存记录），此为选配件。

4．HAD-SZT-2B的测试架上的测试台面比传统测试架的测试台面长宽大100mm,以满足测试大片的需要，采用自动传感装置，接近被测物体时实行自动减速，避免了被测物体的损耗和探头的磨损（于市场上任何一款同类产品的测试架，老一代为手动）还有可以提高测量的度。

5. 本仪器测试电阻、电阻率、方块电阻时，标准系数为机器自带自调，另外手工调整，省去了原仪器的诸多麻烦。（这台仪器的压力大小分三档可以调整，此功能为选配件）

6. 本仪器的zui小分辨率为0.1mΩ

7.主机手自一体功能，并且测试架也是手动和自动都能一体完成，再配两套。

8．测试探头为钨针，市场上多为高速钢针。

9．每次测量均有内置计算机自动进行温度补偿及电压电流矫正。

10.整机测量标准不确定度：≤ 2%（其它误差为≤ 5% ）

11. 参数:

1)． 测量范围：

电阻率：10的-4次方~10的6 次方Ω-cm
方块电阻：10的-4次方 ~10的6 次方Ω/□
电阻：10的-4次方 ~10的6 次方Ω
2)． 可测半导体材料尺寸
直径：5mm-250mm
长度：任意（需要配笔试探头）
3)． 测量方法：
轴向、断面均可
4)． 显示方式：41/2,数显,性、过载自动显示，小数点、单位自动显示。
5)． 恒流源：
（1） 电流输出：直流电流0~100 mA连续可调。
（2） 量程：1、10、100μA、1、10、100mA
（3） 误差：±0.5%读数±1个字
6).四探针测试探头
(1) 探针间距:1mm
(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0%
7).电源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W

8、软件功能：软件可记录、保存、打印每一点的测试数据，并统计分析测试数据zui大值、zui小值、平均值、zui大百分变化、平均百分变化、径向不均匀度、并将数据生成直方图，也可把测试数据输出到Excel中，对数据进行数据分析。软件还可选择自动测量功能，根据样品电阻大小自动选择适合电流量程档测试。
9、计算机通讯接口：并口，高速并行采集数据，连接电脑使用时采集数据到电脑的时间只需要1.5 秒（在 0.1mA、1mA、10mA、100mA量程档时）
10、标准使用环境： 温度：23±2℃；
相对湿度：≤65%；
无高频干扰；
无强光直射

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