四探针探头 探头 型号：GSZ-HP-501
四探针探头是一种测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
四探针探头 探头 型号：GSZ-HP-501
四探针探头是一种测量半导体薄层电阻（面电阻）的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
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◆ 特性及规格：
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1
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特制之手握式探笔
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2
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球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤
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3
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探头带抗静电模块有效止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏
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4
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探头使用寿命长
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5
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探针间距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；缘电阻≥500MΩ
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型号
（Model）
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曲率半径
（Radius）
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压力
（loads）
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探针间距
（spacing）
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探针排列
（Arrangement）
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GSZ-HP-501
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0.5mm
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100g
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3.8mm
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直线
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