冲击试样缺口投影仪/冲击试样缺口投影机 型号：JG-CST-50
JG-CST-50型冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口而、开发的一种光学仪器，与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，对比直观，操作简单，效率高。是理化试验室的设备。
参数：
投影屏： 200×200mm 放大倍数： 50
光源： 12V 100W（卤钨灯） 电源： 220V 50Hz 150W
外型尺寸： 515×224×603mm 重量： 约18Kg
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