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HAD-SC-E 种子大米外观检测分析仪
产品名称:HAD-SC-E 种子大米外观检测分析仪
产品型号:HAD-SC-E
品牌:恒奥德科技
产品数量:
产品单价:面议
日期:2020-06-05
HAD-SC-E 种子大米外观检测分析仪 的详细资料
1、用途:用于类大米(米、糙米、糯米等)项外观指标的自动检测,可进行多参数、批量化的自动分析。
2、系统组成:双光源扫描成像仪及附件、分析软件和电脑(电脑另配)。
3、主要性能指标:
★配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪来成像(中晶 ScanMaker i800 Plus)。透扫幅面30 cm×20 cmzui小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。
★可自动性测量分析30g以上大米样品的:垩白度/率、碎米率及小碎米率、整米数量、整米率、大米透明度、黄粒米、杂、异品种粒、不完善粒(未成熟粒),及糯米的阴米率、病斑或黄变率。还可自动分析大米的碾米度、裂纹率,以及糙米胚芽率。
自动测量每粒的面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径(长度测量误差≤±0.05mm,长宽比测量误差≤±0.05,重现性误差≤±0.02;整米率、碎米率指标测量误差≤±1.0%、重现性误差≤±0.25%)。可大批量自动分析处理与输出结果。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891稻谷或GB1354大米、农业部新标准【大米】NY/T2334-2013等标准相对应,检测项指标的重量比和粒数比。分析图像、分布图、结果数据可保存,分析结果输出至Excel表,可输出分析标记图。
★具有自动学习与识别特性,可自动分割粘连的大米、种粒,可做自动分类分析。
★具有样本条码、电子天平RS232数据软件接口。可兼测的种粒直径范围0.3-20mm(厚15 mm),自动测量度≥99%,交互修正后率达。
注:本标书中打★款项须响应,否则为重大偏离
选配电脑推荐:联想一体机(双核CPU /2G内存/512M显卡/500G硬盘/ 20”彩显/DVD-RM /无线网卡)。




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