单晶少子寿命测试仪 少子寿命测试仪 型号：GZ-LT-2
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GZ-LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国 A.S.T.M 标准而的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目。本仪器灵敏度较高，配备有红外光源，可测量包括集成电路硅单晶在内的类型硅单晶，以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。
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本仪器根据方法高频光电导衰退法的原理，由稳压电源、高频源、检波放大器，特制的InGaAsp／InP红外光源及样品台共五部份组成。采用印刷电路和高频接插连接。整机结构紧凑、测量数据。
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技 术 指 标 ：
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测试单晶电阻率范围
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>2Ω.cm
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可测单晶少子寿命范围
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5μS～7000μS
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配备光源类型
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波长：1.09μm；余辉<1 μS；
闪光频率为：20～30次／秒；
闪光频率为：20～30次／秒；
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高频振荡源
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用石英谐振器，振荡频率：30MHz
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前置放大器
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放大倍数约25，频宽2 Hz-1 MHz
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仪器测量重复误差
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<±20％
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测量方式
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采用对标准曲线读数方式
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仪器消耗功率
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<25W
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仪器工作条件
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温度： 10-35℃、 湿度 < 80％、使用电源：AC 220V，50Hz
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可测单晶尺寸
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断面竖测：φ25mm—150mm； L 2mm—500mm；
纵向卧测：φ25mm—150mm； L 50mm—800mm；
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配用示波器
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频宽0—20MHz；
电压灵敏：10mV／cm；
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