涂层测厚仪/测厚仪/数字式涂层测厚仪 型号：JHW2-TT240
产品概述：
本仪器是一种手持式测量仪，它能快速、伤、地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。可用于在业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。本仪器是材料保护专业的仪器。本仪器以下标准： GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
功能特点：
本仪器采用了涡流测厚法，可伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）
z 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
z 具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（APPL）；
z 设有五个统计量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（．）、标准偏差（S．DEV）；
z 可进行零点校准和二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
z 具有存贮功能：可存贮350 个测量值；
z 具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的数据，以便进行新的测量；
z 可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；
z 具有打印：可打印测量值、统计值；
z 具有与PC 机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至PC 机，以便对数据进行进一步处理；
z 具有电源欠压指示功能；
z 操作过程有蜂鸣声提示；
z 具有错误提示功能；
z 具有自动关机功能
参数：
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测头类型
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N
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测量原理
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电涡流
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测量范围
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0-1250um/0-40um（铜上镀铬）
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低限分辨力
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1µm（10um以下为0.1um）
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探头连接方式
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分体式导线连接
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示值误差
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一点校准（um）
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±[3%H+1.5]
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两点校准（um）
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±[（1%~3%）H+1.5]
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测量条件
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zui小曲率半径（mm）
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凸3 凹10
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基体zui小面积的直径（mm）
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ф5
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zui小临界厚度（mm）
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0.3
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温湿度
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0~40℃
20%RH～90%RH
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统计功能
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平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、
测试次数（．）、标准偏差（S．DEV）
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工作方式
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直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）
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测量方式
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连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
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上下限设置
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无
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存储能力
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350 个测量值
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打印/连接计算机
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可选配打印机/能连接电脑
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关机方式
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手动和自动
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电源
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二节AA型碱性电池
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外形尺寸
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152×47×35mm
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重量
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370g
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基本配置：
z主机
z标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）
z铝基体
z二节AA型（5号）1.5V电池
z仪器保护套
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