HAD-WSP-51数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

本测试仪可赠设电池供电，适合手持式变动场合操作！

仪器参数设定、功能转换部采用一旋钮输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成，故定位、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。

三、基本参数

1. 测量范围、分辨率

电 阻： 1.0×10-2 ～ 2000 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×10 Ω

电 阻 率： 1.0×10-3～ 2000 Ω-cm 分辨率0.1×10-2 ～ 0.1 Ω-cm

方块电阻： 1.0×10-3 ～ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1 ～ 0.1×10 Ω/□

2. 可测半导体材料尺寸（手持式）

直 径： 测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限.

长（或高）度： 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.

3. 量程划分及误差等

4) 适配器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电

5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

净 重：≤0.5kg